ALTEC LSP103x110-158W 光学检测装置|光源
日期:2021-01-05 人气:594 收藏
ALTEC LSP103x110-158W 光学检测装置|光源 用途及特点
硅晶片、半导体、各种基板、透镜表面……眼睛
适合目测检查
3M LM1荧光检测仪 杉藤显微镜 饭岛电子溶氧仪 日本共和应变片 RKC ST-50COPAL压力计 奥地利安东帕DMA35密度计 日本大菱直角规 ERS-2电阻仪 日本山田光学强光灯 YP-150I YP-250I 小平涂布器 版权所有 青岛分度科技有限公司|网站备案号: 鲁ICP备2021017826号-6